高低溫試驗箱資料下載

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一、產(chǎn)品概述： 
  
HJW/T 系列試驗箱于電工、電子產(chǎn)品及其元器件、其它材料在低溫的環(huán)境下貯 
  
存、運輸、使用時的可靠性試驗。該設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定 要求，在低溫的條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，通過檢測 來判斷產(chǎn)品的性能，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、簽訂及出廠檢驗之用，性能指標符合 GB /T5170.2.5、GB5170.18《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的要求。 
  二、技術(shù)參數(shù)： 
  
1、型 號：HJW/T-150L 
2、工作室尺寸：500 深×500 寬×600 高 mm 
3、溫度 范圍： -20℃～150℃
 4、溫度均勻度：≤±2℃ 
5、溫度波動度：≤±0.5℃ 
6、降 溫 速率：≥0.7-1℃ /分鐘